EN
SR EN 60749-20:2004
Dispozitive cu semiconductoare. Metode de încercări mecano-climatice. Partea 20: Rezistenţa dispozitivelor SMD încapsulate în plastic la efectul combinat al umidităţii şi căldurii din timpul lipirii
Standardul face parte din sistemul de asigurarea calitaţii componentelor electronice, în cazul de faţa pentru metodele de încercari mecano-climatice privind dispozitivele cu semiconductoare (componente discrete şi circuite integrate) şi anume prezintă o modalitate de evaluare a rezistenţei la căldura dezvoltată în timpul lipirii dispozitivelor cu montare pe suprafaţa cu capsule din plastic
Status :
Anulat
Data aprobării : 30.09.2004
Data publicării : 01.10.2004
Data anulării : 01.09.2012
Număr de pagini : 58
ICS : 31.080.01 Dispozitive cu semiconductoare în general
Comitet tehnic : 17 - Dispozitive cu semiconductoare
- Inlocuit prin SR EN 60749-20:2010