SR EN IEC 62819:2023
Lucru sub tensiune. Echipamente de protecție pentru ochi, față și cap împotriva efectelor arcului electric. Cerințe de performanță și metode de încercare
This part of IEC 63275-1 gives a test method to evaluate gate threshold voltage shift of silicon carbide (SiC) power metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) using room temperature readout after applying continuous positive gate-source voltage stress at elevated temperature. The proposed method accepts a certain amount of recovery by allowing large delay times between stress and measurement (up to 10h).
Status :
In vigoare
Data aprobării : 30.06.2023
Număr de pagini : 109
ICS : 13.260 Protectia contra electrocutarii,29.240.99 Alte echipamente referitoare la instalatii de transport si distributie a energiei electrice,29.260.99 Alte echipamente electrice pentru conditii speciale
Comitet tehnic : 176 - Echipamente şi scule pentru lucrări sub tensiune
- Modificat de SR EN IEC 62819:2023/AC:2024
EN